费米视觉助力SK Hynix提升半导体检测效率

首尔，韩国 — 2024年9月9日

SK Hynix采用费米视觉的视觉系统，对高密度IC基板上的金粉端子直径和位置进行全板检测。

每块板包含超过300,000个检测目标，加之表面材料形状不规则、成像易受噪声影响，传统检测系统难以高效处理——每块板需要超过50分钟，并需要大量人工监督。

费米视觉团队为此提供定制配置，采用高放大倍率全局快门成像和预测性对准算法，将检测时间缩短至160秒，同时提高数据保真度。

关键创新

• 预测性目标定位：通过预测逻辑，仅5%的点需要对准，3%的点需要二次复检。
• 压缩采样：高放大倍率使全分辨率扫描成为可能，而不会牺牲检测周期。
• 抗噪声能力：先进的去噪和边缘检测轻松处理复杂金粉轮廓。

基于上述表现，费米视觉的解决方案通过了SK Hynix的内部评估，并获得了SKC和ISC的额外订单。

费米视觉继续扩大其在半导体供应链中的影响力，重新定义了世界最先进基板的测量和验证方式。